產(chǎn)品介紹：
用于微米級(jí)表面尺寸光學(xué)反射率，薄膜厚度及膜層材料光學(xué)參數(shù)（n&k）的快速測(cè)量。可以在0.1秒鐘內(nèi)同時(shí)獲取單層薄膜厚度和材料光學(xué)參數(shù)。該儀器可用于各種環(huán)境、如實(shí)驗(yàn)室、工廠生產(chǎn)線及野外的實(shí)時(shí)測(cè)量。
關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)：
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小光斑：測(cè)量光斑直徑從5μm到100μm
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測(cè)速快：?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量時(shí)間小于0.1秒
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精度高：反射率精度0.1%，膜厚精度達(dá)0.2nm
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波長(zhǎng)范圍：350nm至1000nm，1000nm至1700nm
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小型便捷：重量2.8公斤，USB連接計(jì)算機(jī)，軟件易學(xué)好用
應(yīng)用領(lǐng)域：
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光學(xué)鍍膜：鏡片增透膜、高反膜、分光膜測(cè)量
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醫(yī)療器件：內(nèi)窺鏡鏡片反射率、內(nèi)聚對(duì)二甲苯保護(hù)層、醫(yī)療器械表面涂層測(cè)量
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半導(dǎo)體制造：二氧化硅（SiO2）、氮化硅（Si3N4）、ITO（氧化銦錫）、有機(jī)發(fā)光層、聚酰亞胺（PI）、光刻膠厚度測(cè)量
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太陽(yáng)能電池：氮化硅減反射膜、氧化鋁鈍化層測(cè)量
產(chǎn)品規(guī)格：
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參數(shù)
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技術(shù)指標(biāo)
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測(cè)量?jī)?nèi)容
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反射率，膜層厚度及光學(xué)常數(shù)（n&k）
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光斑尺寸
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5μm，10μm，50μm，80μm，100μm
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膜厚范圍
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15nm至100μm，精度為0.2nm
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測(cè)量時(shí)間
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單點(diǎn)測(cè)量時(shí)間小于0.1秒
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光譜范圍
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350nm至1000nm，1000nm至1700nm
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樣品尺寸
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1mm至100mm
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儀器重量
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2.8公斤
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儀器尺寸
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29 x 23 x 25cm
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數(shù)據(jù)處理
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USB數(shù)據(jù)傳輸，配套軟件Film_Analyzer
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操作系統(tǒng)
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Windows10及以上系統(tǒng)
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電源
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100-240 VAC，50/60Hz，0.4A
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